AEC-Q認(rèn)證是國(guó)際汽車電子領(lǐng)域的準(zhǔn)入門(mén)檻
1994 年,克萊斯勒、福特和通用汽車三大主機(jī)廠為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車電子委員會(huì) AEC(Automotive Electronics Council),符合AEC規(guī)范的零部件均可被三家車廠同時(shí)采用。此舉推動(dòng)了汽車零部件通用性的實(shí)施,為車載電子市場(chǎng)的快速增長(zhǎng)奠定基礎(chǔ)。目前AEC會(huì)員遍及全球各大汽車廠與汽車電子和半導(dǎo)體廠商,AEC-Q為AEC組織所制訂的車用可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
目前,AEC-Q 標(biāo)準(zhǔn)已被整個(gè)汽車行業(yè)廣泛認(rèn)可和采用,獲得 AEC-Q 認(rèn)證的企業(yè)將在日益激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中搶占先機(jī),成功打入各大主機(jī)廠和一級(jí)供應(yīng)商的供應(yīng)鏈。
AEC-Q認(rèn)證適用產(chǎn)品
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標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證
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六大標(biāo)準(zhǔn)名稱
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適用產(chǎn)品
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AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)
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AEC-Q100集成電路
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集成電路IC:控制類芯片、驅(qū)動(dòng)類芯片、計(jì)算類芯片、存儲(chǔ)類芯片、傳感類芯片、通信類芯片、功率類芯片、電源類芯片、安全類芯片、模擬芯片等。
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AEC-Q101分立半導(dǎo)體器件
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二極管、齊納二極管、穩(wěn)壓二極管、整流二極管、TVS管、MOSFET、IGBT等
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AEC-Q102光電半導(dǎo)體器件
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車用LED、激光器件、激光二極管、激光三極管、光電二極管/三極管、光電耦合器、OE-MCM
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AEC-Q103MEMS傳感器
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MEMS壓力傳感器、MEMS麥克風(fēng)器件
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AEC-Q104多芯片組件
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混合集成放大器(前置、脈沖、高頻放大器等)
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電源組件(DC/DC、AC/DC變換器、EMI濾波器等)
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功率組件(功率放大器、電動(dòng)機(jī)伺服電路、功率振蕩器等)
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數(shù)/模、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(A/C、D/A轉(zhuǎn)換器等)
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軸角-數(shù)字轉(zhuǎn)換器(同步機(jī)-數(shù)字轉(zhuǎn)換器/分解器、雙數(shù)轉(zhuǎn)換器等)
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信號(hào)處理電路(采樣保持電路、調(diào)制解調(diào)電路等)
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AEC-Q200無(wú)源元件
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鉅電容和鈮電容、保險(xiǎn)絲、電阻、電磁器件(電感/變壓器)、網(wǎng)絡(luò)(R-C/C/R)、薄膜電容器、熱敏電阻器、可調(diào)電容器/電阻器、壓敏電阻、聚合白恢復(fù)保險(xiǎn)絲、石英晶體、陶瓷諧振器、鐵氧體EMI干擾抑制器/過(guò)濾器、超級(jí)電容器、鋁電解電容器、陶瓷電容器
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AEC-Q測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
AEC-Q100 芯片應(yīng)力測(cè)試(Stress Test)的認(rèn)證規(guī)范
AEC-Q100-001 邦線切應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測(cè)試
AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應(yīng)測(cè)試
AEC-Q100-005 非易失性存儲(chǔ)器程序擦除耐久性,數(shù)據(jù)保留和運(yùn)行壽命測(cè)試
AEC-Q100-007 故障仿真和測(cè)試等級(jí)
AEC-Q100-008 早期壽命失效率(ELFR)
AEC-Q100-009 電分配的評(píng)估
AEC-Q100-010 錫球剪切測(cè)試
AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測(cè)試
AEC-Q100-012 12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述
AEC-Q101 離散組件應(yīng)力測(cè)試(Stress Test)的認(rèn)證規(guī)范
AEC-Q101-001 人體模式靜電放電測(cè)試
AEC-Q101-003 邦線切應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q101-004 其他項(xiàng)目測(cè)試
AEC-Q101-005 帶電器件模式的靜電放電測(cè)試
AEC-Q101-006 12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述
AEC-Q102 車用分立光電半導(dǎo)體元器件可靠性驗(yàn)證測(cè)試
AEC-Q102-001 凝露測(cè)試
AEC-Q102-002 電路板柔性測(cè)試
AEC-Q102-003 光電多芯片模塊 (OE-MCM)
AEC-Q103 汽車傳感器應(yīng)力測(cè)試的認(rèn)證規(guī)范
AEC-Q103-002 微機(jī)電系統(tǒng)壓力傳感器器件應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q103-003 MEMS麥克風(fēng)器件應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q104 車用多芯片模塊可靠性測(cè)試
AEC-Q200 被動(dòng)組件應(yīng)力測(cè)試(Stress Test)的認(rèn)證規(guī)范(無(wú)源器件)
AEC-Q200-001 阻燃性能測(cè)試
AEC-Q200-002 人體模式靜電放電測(cè)試
AEC-Q200-003 梁載荷(斷裂強(qiáng)度)試驗(yàn)
AEC-Q200-004 自恢復(fù)保險(xiǎn)絲測(cè)量程序
AEC-Q200-005 PCB板彎曲/端子邦線應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q200-006 端子應(yīng)力(貼片元件)/切應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q200-007 電壓浪涌測(cè)試
北測(cè)測(cè)試能力及AEC-Q100技術(shù)要求
北測(cè)測(cè)試能力及AEC-101技術(shù)要求
北測(cè)測(cè)試能力及AEC-102技術(shù)要求
北測(cè)測(cè)試能力及AEC-103技術(shù)要求
AEC-Q103-002
AEC-Q103-003
北測(cè)測(cè)試能力及AEC-104技術(shù)要求
北測(cè)測(cè)試能力及AEC-200技術(shù)要求
關(guān)于北測(cè)
北測(cè)集團(tuán)(以下簡(jiǎn)稱"NTEK")成立于2009年,總部位于深圳,主要從事智能網(wǎng)聯(lián)汽車、電子通信、新能源的研發(fā)驗(yàn)證、檢驗(yàn)檢測(cè)、失效分析、仿真模擬和市場(chǎng)準(zhǔn)入等質(zhì)量研究技術(shù)服務(wù)。
北測(cè)擁有豐富的車規(guī)級(jí)電子認(rèn)證經(jīng)驗(yàn),已成功幫助100多家企業(yè)順利通過(guò)AEC-Q系列認(rèn)證,通過(guò)AEC-Q100對(duì)每一個(gè)芯片個(gè)案進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)。
北測(cè)集團(tuán)以車企車規(guī)芯片國(guó)產(chǎn)化需求為牽引,依托國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)基礎(chǔ),提供完善的檢測(cè)認(rèn)證服務(wù),通過(guò)AEC-Q100車用標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格把控汽車芯片安全質(zhì)量,助力國(guó)產(chǎn)車規(guī)級(jí)芯片大力發(fā)展,為打造智能汽車安全體系再添新動(dòng)力。