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高低溫存儲測試

測試介紹

高低溫存儲測試是評估產品在極端溫度環(huán)境下長期存放后，性能、功能及外觀是否保持合格的可靠性測試，廣泛應用于電子、汽車、航天等領域。

測試目的

驗證產品在長期高溫或低溫存儲后，是否出現材料老化、結構變形、性能衰減等問題。
提前暴露因溫度應力導致的潛在缺陷，比如元器件失效、密封失效、涂層脫落等。
確認產品在存儲后，能正常恢復到初始工作狀態(tài)，滿足后續(xù)使用要求。

測試流程

1、預處理：將產品外觀、功能、關鍵性能（如電壓、信號）進行初始檢測，記錄數據作為基準。
2、存儲階段：將產品放入高低溫試驗箱，按設定溫度和時長進行高溫存儲或低溫存儲（可單獨測試，也可交替測試），期間不供電、不操作。

3、恢復與檢測：存儲結束后，取出產品在常溫下恢復，再重復初始檢測項目，對比數據是否符合合格標準。

最終檢測 (Final Inspection)
對恢復后的樣品進行與初始檢測完全相同的檢查：
外觀檢查：是否有開裂、變形、變色、起泡、脫落等現象。
機械性能檢查：結構是否松動，按鍵/接口是否失靈。
功能與性能測試：所有電氣參數和功能是否正常，性能有無衰減。

測試條件選擇

產品類型	可能的高溫條件	可能的低溫條件	考量因素
消費類電子產品	+60°C ~ +70°C	-20°C ~ -40°C	夏季汽車后備箱、冬季北方戶外運輸
汽車電子	+85°C ~ +105°C	-40°C ~ -55°C	發(fā)動機艙內高溫、寒帶地區(qū)低溫
工業(yè)設備	+70°C ~ +85°C	-20°C ~ -40°C	工廠車間環(huán)境
航空航天設備	+125°C以上	-55°C以下	高空及外太空極端環(huán)境
電池	+60°C (±5°C)	-40°C (±5°C)	高空及外太空極端環(huán)境

常見失效模式

經過高低溫存儲測試后，產品可能出現以下失效：
塑料、橡膠件：變脆、開裂、硬化、失去彈性（低溫）；軟化、變形、熔化（高溫）。
液晶顯示屏（LCD）：顯示異常、黑屏、響應變慢。
電池：容量永久性衰減、漏液、鼓包。
PCB及焊點：板材分層、焊點開裂、元器件脫落。
金屬部件：腐蝕加速（尤其在高溫高濕結合測試中）。
膠粘劑和密封圈：失效，導致密封性能下降。
軟件/電子：數據丟失、參數漂移、開機失敗。

參考標準

電子類：GB/T 2423.2（高溫存儲）、GB/T 2423.1（低溫存儲）。
汽車類：ISO 16750-4（電氣電子設備環(huán)境條件）、VW 80000（大眾汽車標準）。

與其他測試的區(qū)別

vs. 高低溫工作測試：
存儲測試：產品處于關機、不通電狀態(tài)。只考察溫度對材料本身的影響。

工作測試：產品處于開機、通電運行狀態(tài)。考察溫度對產品性能和散熱等的綜合影響。

vs. 溫度循環(huán)測試：
存儲測試：通常在極限溫度下長時間保持，側重于材料的耐候性。

溫度循環(huán)測試：溫度在高低溫之間快速、反復變化，側重于由熱脹冷縮引起的疲勞損傷。

vs. 熱沖擊測試：
存儲測試：溫度變化速率較慢。
熱沖擊測試：溫度變化速率極快（通常＞15°C/min），沖擊更劇烈。

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